El objetivo principal de este curso intensivo es ofrecer una formación especializada en el uso de métodos de análisis avanzados de difracción de rayos X de polvo.
Se pretende que el alumno adquiera conocimientos y, fundamentalmente, práctica en métodos de ajuste de perfil sin y con modelo estructural dirigidos a aplicaciones de interés científico e industrial. Se hará especial énfasis en el análisis cuantitativo de fases cristalinas, cuantificación de fases amorfas, análisis microestructural y refinamiento por el método Rietveld.
El curso estará centrado en el manejo del software TOPAS 6.0 y sus aplicaciones a la resolución de diferentes problemas de caracterización y análisis mediante difracción de polvo.
Más información: https://www.lec.csic.es/cursosxrd